Fondamenti di diffrazione dei raggi x e microscopia elettronica a trasmissione

Comprendere la struttura interna dei materiali è fondamentale per l'ingegneria moderna, la metallurgia e la nanotecnologia.Questo corso fornisce un'introduzione chiara e completa ai concetti fondamentali della diffrazione a raggi X (XRD) e della microscopia elettronica a trasmissione (TEM) senza richiedere un complesso background fisico. Imparerai come interpretare i modelli di diffrazione e analizzare le microstrutture per determinare i sistemi cristallini e identificare le fasi sconosciute. Cosa imparerai: - Comprendere la fisica fondamentale dei raggi X, dei fasci di elettroni e delle loro interazioni con la materia solida - Applicare la legge di Bragg e i calcoli del fattore di struttura ai picchi di diffrazione dell'indice - Analizzare i dati XRD per identificare le fasi cristalline e stimare le dimensioni della cristallite - Comprendere l'ottica elettronica, le modalità di imaging e i meccanismi di diffrazione all'interno di un TEM - Interpretare i modelli di diffrazione elettronica ad area selezionata (SAED) per l'analisi strutturale - Praticare l'analisi di scenari di caratterizzazione dei materiali del mondo reale attraverso casi di studio scritti A partire dalla cristallografia di base e dalla fisica delle radiazioni, il curriculum ti guida passo dopo passo attraverso i principi di preparazione del campione, la geometria dello strumento e le tecniche avanzate di interpretazione dei dati. Questo corso basato su testo è progettato per principianti, studenti di ingegneria e ricercatori di laboratorio di livello base che desiderano costruire una solida base teorica nella caratterizzazione dei materiali.Non è richiesta alcuna esperienza precedente con XRD o TEM. Inizia il tuo viaggio nel nanomondo e sblocca oggi i segreti delle strutture materiali.