Dunne Filmkarakterisering: Optische en Röntgenstraalanalyse

Inzicht in de interne structuur en chemische samenstelling van materialen is de hoeksteen van de moderne halfgeleidertechniek.Deze cursus introduceert de essentiële methoden die worden gebruikt om dunne films te inspecteren zonder ze te beschadigen, waardoor productie- en onderzoeksresultaten van hoge kwaliteit worden gegarandeerd. U krijgt een duidelijk inzicht in hoe optische en X-ray signalen worden gebruikt om de laagdikte, kristallijne structuur en materiaalzuiverheid te bepalen. Wat je leert: - Begrijp de fundamentele fysica van licht en röntgeninteracties met vaste stof - Leer hoe ellipsometrie en reflectometrie worden gebruikt om de dikte van dunne films te meten - Pas röntgendiffractietechnieken toe om kristallijne kwaliteit en roosterparameters te analyseren - De basisprincipes van samenstellingsanalyse beheersen voor het identificeren van materiële onzuiverheden - Verken moderne geautomatiseerde karakteriseringsworkflows en datagestuurde analysetechnieken - Oefen het interpreteren van karakteriseringsgegevens voor real-world scenario's voor de productie van halfgeleiders De cursus begint met een inleiding tot de belangrijkste terminologie en golffysica voordat u door specifieke karakteriseringsmethoden gaat die vandaag de dag in de industrie worden gebruikt.Dit tekstgebaseerde programma is ontworpen voor beginners in techniek, natuurkunde of materiaalwetenschap zonder voorafgaande ervaring in karakterisering. Begin vandaag nog uw reis in de nauwkeurige wereld van materiaalanalyse.